[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201880011681.8 | 申请日: | 2018-01-23 |
公开(公告)号: | CN110300895B | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 森高通;川原铁士;岩濑友一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金成哲;宋春华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供具有即使扩大探针的清洗范围,也能够以短时间实施从探针的清洗到干燥的清洗机构的自动分析装置。自动分析装置具有:具有能够插入探针且设有吸引口(43a~c)的清洗端口的清洗槽(33);真空罐(56);使真空罐成为相比大气压为负压的状态的真空泵(55);真空瓶(51);连接清洗端口的吸引口和真空瓶的吸引喷嘴(53);连接真空罐和真空瓶的真空喷嘴(54);以及控制器,其中,在清洗端口正在吐出清洗探针的清洗液的期间,控制器使成为负压的状态的真空罐和清洗端口经由真空瓶导通。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,具有:清洗槽,其具有探针能够插入且设有吸引口的清洗端口;真空罐;真空泵,其使上述真空罐成为相比大气压为负压的状态;真空瓶;吸引喷嘴,其连接上述清洗端口的上述吸引口和上述真空瓶;真空喷嘴,其连接上述真空罐和上述真空瓶;以及控制器,在上述清洗端口正在吐出清洗上述探针的清洗液的期间,上述控制器使成为负压的状态的上述真空罐和上述清洗端口经由上述真空瓶导通。
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