[发明专利]吸水性树脂结构的非破坏评价方法在审
申请号: | 201880013520.2 | 申请日: | 2018-03-02 |
公开(公告)号: | CN110325845A | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 千叶实季人;小野田裕一 | 申请(专利权)人: | 住友精化株式会社 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 龚敏;王刚 |
地址: | 日本国兵库县加*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种可以合适用于为了控制吸水性树脂的各物性的吸水性树脂结构的非破坏评价方法。本发明的吸水性树脂结构的非破坏评价方法是通过X射线计算机断层成像法,非破坏地评价吸水性树脂结构的方法,其具备:在X射线计算机断层成像装置的试样台上,设置作为评价对象的所述吸水性树脂的工序1;使用上述X射线计算机断层成像装置,进行所述吸水性树脂的X射线计算机断层成像,取得所述吸水性树脂的截面图像数据的工序2;和,使用图像分析软件,分析所述断层图像数据,获得所述吸水性树脂的截面图像的工序3。 | ||
搜索关键词: | 吸水性树脂 非破坏 截面图像 断层图像数据 图像分析软件 物性 评价对象 分析 | ||
【主权项】:
1.一种吸水性树脂结构的非破坏评价方法,是通过X射线计算机断层成像法,非破坏地评价吸水性树脂结构的方法,其具备:在X射线计算机断层成像装置的试样台上,设置作为评价对象的所述吸水性树脂的工序1,使用上述X射线计算机断层成像装置,进行所述吸水性树脂的X射线计算机断层成像,取得所述吸水性树脂的截面图像数据的工序2,和使用图像分析软件,分析所述断层图像数据,获得所述吸水性树脂的截面图像的工序3。
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