[发明专利]采用衍射检测器的样本检查设备有效
| 申请号： | 201880014087.4 | 申请日： | 2018-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN110325846B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | P·埃文斯;K·罗杰斯 | 申请（专利权）人： | 诺丁汉特伦特大学;克兰菲尔德大学 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008;G01N23/205 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 英国诺丁汉*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种样本检查设备(100)以圆锥壳(112)的X光或类似辐射照射样本(110)，用于从样本(110)上的圆形路径(122)产生多个德拜环。该设备(100)设置有两个检测器(1400，1402)；第一检测器(1400)接收衍射辐射，且第二检测器(1402)接收通过在第一检测器(1400)的检测表面处设置的编码孔径(1404)传送的辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 衍射 检测器 样本 检查 设备 | ||
【主权项】：
1.一种样本检查设备，包括：电磁辐射源；射束形成准直仪，用于产生基本上圆锥壳的辐射，第一辐射检测器，被设置成在圆锥壳射束入射到待检样本上之后接收衍射辐射；编码孔径，设置在所述第一辐射检测器的检测表面处；以及范围检测器，被设置成收集通过所述编码孔径传送的辐射。
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