[发明专利]电磁波测量装置以及电磁波测量方法有效
| 申请号： | 201880015862.8 | 申请日： | 2018-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN110383086B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 久武信太郎 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人大阪大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 金玲;崔成哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电磁波测量装置(101、102)具备生成两种波长的探光的探光生成部(1)以及包括电光晶体且接收通过所述探光生成部(1)生成的所述探光以及被检测电磁波的电光探针(2、2A、2B)，所述探光生成部(1)进行使所述探光的频率差变动的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种电磁波测量装置，其具备：探光生成部，其生成两种波长的探光；以及电光探针，其包括电光晶体，且接收被检测电磁波以及通过所述探光生成部生成的所述探光，其中，所述探光生成部进行使所述探光的频率差变动的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。
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