[发明专利]低温微波分析仪有效
| 申请号： | 201880015944.2 | 申请日： | 2018-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN110383020B | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | M·莫托滕;R·科科尼米;V·维斯特里宁;R·拉克 | 申请（专利权）人： | IQM芬兰有限公司 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00;H01L39/22 |
| 代理公司： | 重庆智鹰律师事务所 50274 | 代理人： | 唐超尘;刘贻行 |
| 地址： | 芬兰埃斯波凯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种微波辐射检测器包括信号输入(401)和检测器输出(402)。具有欧姆导电性的吸收器元件(404)通过第一长度超导体(405)耦接于所述信号输入(401)。可变阻抗元件(406)通过第二长度超导体(407)耦接于检测器输出(402)，可变阻抗元件的阻抗配置为随温度变化。还包括加热输入(408)和通过第三长度超导体(410)耦接于加热输入(408)的加热元件(409)。吸收器元件(404)，可变阻抗元件(406)和加热元件(409)通过长度短于所述第一长度超导体(405)、第二长度超导体(407)和第三长度超导体(405)中的任何一个的超导体部分彼此连接(410)。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 微波 分析 | ||
【主权项】：
1.一种微波辐射检测器，包括：‑信号输入(401)和检测器输出(402)，‑具有欧姆导电性的吸收器元件(404)，其通过第一长度超导体(405)耦合于所述信号输入(401)，和‑阻抗配置为随温度变化的可变阻抗元件(406)，其通过第二长度超导体(407)耦合于所述检测器输出(402)，其特征在于：‑检测器包括加热输入(408)，‑检测器包括加热元件(409)，其通过第三长度超导体(410)耦合于所述加热输入(408)，和‑所述吸收器元件(404)、所述可变阻抗元件(406)和所述加热元件(409)通过长度短于所述第一长度超导体(405)、第二长度超导体(407)和第三长度超导体(410)中的任何一个的超导体部分彼此耦合，以允许在所述吸收器元件(404)、所述可变阻抗元件(406)和所述加热元件(409)间的热电子扩散，同时阻止通过所述第一长度超导体(405)、第二长度超导体(407)和第三长度超导体(410)的热的准粒子热输运。
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