[发明专利]功率半导体开关元件的损伤预测装置和损伤预测方法、AC-DC转换器、DC-DC转换器有效
申请号: | 201880018159.2 | 申请日: | 2018-02-16 |
公开(公告)号: | CN110431429B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 池田秀寿;户川隆 | 申请(专利权)人: | 日本电产株式会社 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;H02M3/155;H02M1/42;H03K17/16;H02M1/32;H02M1/08;H02M3/156;H02M7/12 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄志坚;崔成哲 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 功率半导体开关元件的损伤判定装置具有:电阻,其与所述功率半导体开关元件的栅极连接;比较部,其在规定电压被施加于所述功率半导体开关元件的栅极时,对与在所述电阻的两端产生的电压对应的检测电压和基准电压进行比较;以及预测部,其在所述检测电压超过所述基准电压时,预测为在所述功率半导体开关元件的栅极绝缘层蓄积了规定的损伤。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体 开关 元件 损伤 预测 装置 方法 ac dc 转换器 | ||
【主权项】:
1.一种功率半导体开关元件的损伤预测装置,其特征在于,该功率半导体开关元件的损伤预测装置具有:电阻,其与所述功率半导体开关元件的栅极连接;比较部,其在规定电压被施加于所述功率半导体开关元件的栅极时,对与在所述电阻的两端产生的电压对应的检测电压和基准电压进行比较;以及预测部,其在所述检测电压超过所述基准电压时,预测为在所述功率半导体开关元件的栅极绝缘层蓄积了规定的损伤。
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