[发明专利]涂层测定在审
| 申请号： | 201880019112.8 | 申请日： | 2018-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN110431403A | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | V·菲利波;T·弗朗西斯科;D·皮埃罗;C·维塔列 | 申请（专利权）人： | 阿斯特罗普有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 付林;王小东 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 英国;GB |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种在涂层测试系统(8)中执行的、用于自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：将光谱仪探针(10)定位在物体(线10)附近，所述物体包括聚合物涂层；使用所述探针获取所述聚合物涂层的光谱；以及对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。 | ||
| 搜索关键词： | 聚合物涂层 光谱 探针 聚合 光谱仪 测试系统 化学计量 涂层材料 自动测定 测量 分析 | ||
【主权项】：
1.一种在涂层测试系统中执行的、用于自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：将光谱仪探针定位在物体附近，所述物体包括聚合物涂层；使用所述探针获取所述聚合物涂层的光谱；以及对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿斯特罗普有限公司，未经阿斯特罗普有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880019112.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：侧流测试系统
- 下一篇：表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置
