[发明专利]氢检测用元件、氢检测用元件的制造方法以及氢检测装置有效
申请号: | 201880021278.3 | 申请日: | 2018-03-28 |
公开(公告)号: | CN110462380B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 西岛喜明;岩井武;平野勋 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人横浜国立大学;东京应化工业株式会社 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种氢检测用元件,将储氢金属以规定的形状以及大小配置于基材,基于由入射的光而感应的表面等离子共振对氢进行检测。储氢金属由包括钯与贵金属的膜体形成。通过了储氢的储氢金属的光的光谱在偏离于二氧化碳相对于光的吸收光谱(C1)与水相对于光的吸收光谱(H1~H3)的波长带宽具有峰。 | ||
搜索关键词: | 检测 元件 制造 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1.一种氢检测用元件,将储氢金属以规定的形状以及大小配置于基材,基于由入射的光而感应的表面等离子共振对氢进行检测,/n所述储氢金属由包括钯与贵金属的膜体形成,/n通过了储氢的所述储氢金属的所述光的光谱,在偏离于二氧化碳相对于所述光的吸收光谱以及水相对于所述光的吸收光谱的波长带宽具有峰。/n
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