[发明专利]评估波前测量质量的方法和实现该方法的系统有效
| 申请号： | 201880022164.0 | 申请日： | 2018-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN110546470B | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 格扎维埃·勒韦克 | 申请（专利权）人： | 想象光学公司 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00;A61B3/10;G01J9/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陆嘉 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据一个方面，本说明书涉及一种用于评估光学波前的测量质量的方法，所述测量借助于波前分析仪通过直接测量来获得，该方法包括：‑通过波前传感器获取(10)用于波前测量的光电信号，所述传感器包括二维检测器；‑基于所述光电信号确定(11)表征所述光电信号的寄生分量的参数；‑根据表征所述信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估(12)波前的测量的品质因数；‑根据所述品质因数向用户显示(13)测量的质量水平。 | ||
| 搜索关键词： | 评估 测量 质量 方法 实现 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于评估光学波前的测量质量的方法，所述测量借助于波前分析仪通过直接测量获得，所述方法包括：/n-通过波前传感器获取(10)用于波前测量的光电信号，所述传感器包括二维检测器；/n-基于所述光电信号确定(11)表征所述光电信号的寄生分量的至少一个参数；/n-根据表征所述信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估(12)波前的测量的品质因数；/n-根据所述品质因数向用户显示(13)测量的质量水平。/n
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