[发明专利]包括平面辐射设备的基本天线有效

专利信息
申请号: 201880022755.8 申请日: 2018-02-01
公开(公告)号: CN110574232B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: P·加雷克;A·吉奥托;G·莫尔万 申请(专利权)人: 塔莱斯公司;波尔多大学;波尔多综合理工学院;国立科学研究中心
主分类号: H01Q9/04 分类号: H01Q9/04;H01Q21/06;H01Q21/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘瑜
地址: 法国库*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种基本天线,其包括平面辐射设备(10),该平面辐射设备包括具有中心(C)的基本为平面的辐射元件(11),包含辐射元件(11)的平面由穿过中心(C)的第一直线(D1)以及垂直于第一直线(D1)并穿过中心(C)的第二直线(D2)限定,所述辐射元件(11)包括多对激励点,多对激励点布置在位于距第一直线(D1)和第二直线(D2)一距离处的至少一个第一四元激励点中,第一四元激励点包括相对于所述第一直线(D1)基本对称布置的第一对激励点(1+、1‑),以及相对于所述第二直线(D2)基本对称布置第二对激励点(2+、2),基本天线包括多个处理电路,多个处理电路能够供应用于对激励点进行激励和/或对从激励点发射的信号进行整形的差分激励信号,每对激励点耦合到处理电路,使得处理电路以差分方式激励该对激励点和/或处理从该对点发出的差分信号。
搜索关键词: 包括 平面 辐射 设备 基本 天线
【主权项】:
1.一种基本天线,其包括平面辐射设备(10),所述平面辐射设备(10)包括具有中心(C)的实质上为平面的辐射元件(11),包含所述辐射元件(11)的平面由穿过所述中心(C)的第一直线(D1)以及垂直于所述第一直线(D1)并穿过所述中心(C)的第二直线(D2)限定,所述辐射元件(11)包括多对激励点,所述多对激励点布置在位于距所述第一直线(D1)和所述第二直线(D2)一距离处的至少一个第一四元激励点中,所述第一四元激励点包括第一对和第二对,所述第一对由关于所述第一直线(D1)实质上对称放置的激励点(1+、1-)组成,所述第二对由关于所述第二直线(D2)实质上对称放置的激励点(2+、2)组成,所述基本天线包括多个处理电路,所述多个处理电路能够递送旨在用于激励所述激励点的差分激励信号和/或能够形成从所述激励点发出的信号,每对激励点耦合到处理电路,使得所述处理电路能够差分地激励该对激励点和/或处理从该对点发出的差分信号。/n
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