[发明专利]粒子测量装置和粒子测量方法有效
| 申请号： | 201880025094.4 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN110573855B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 近藤郁;田渕拓哉;坂东和奈;加藤晴久;松浦有祐 | 申请（专利权）人： | 理音株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/05;G01P3/36 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 崔迎宾;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种粒子测量装置，其特征在于，/n所述粒子测量装置包括：/n流动池，包括试样流体的流道，所述试样流体包含粒子；/n光源，输出光；/n照射光学系统，用来自所述光源的所述光照射所述流道中的所述试样流体；/n第一拍摄部，从所述流道的延长方向拍摄来自所述光通过的所述流道内的检测区域中的所述粒子的散射光；以及/n粒径确定部，根据由所述第一拍摄部以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的所述粒子的二维方向的移动量，并根据所述二维方向的移动量确定所述粒子的粒径。/n
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