[发明专利]检测在单和双套管柱环境的环形材料中的异常在审
| 申请号： | 201880027788.1 | 申请日： | 2018-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN110546535A | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 菲利普·蒂格;亚历克斯·斯图尔特 | 申请（专利权）人： | 菲利普·蒂格;亚历克斯·斯图尔特 |
| 主分类号： | G01V5/12 | 分类号： | G01V5/12 |
| 代理公司： | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 危凯权;金飞<国际申请>=PCT/US2 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供一种用于在单、双和多套管井眼环境内测量材料体积密度的基于x射线的水泥评估工具，该工具至少包括内部长度，该内部长度包括探测器区段，其中所述探测器区段还包括x射线源；用于辐射测量检测器的辐射屏蔽；依赖探测器的电子器件；以及多个工具逻辑电子器件和PSU，其中该工具使用x射线来照射井眼周围的地层，且多个检测器用来直接测量水泥环的密度和其内密度中的任何变化。检测器用来测量套管偏位，使得其它检测器响应补偿工具偏位和集中；多个参考检测器用来监测x射线源的输出，且最短轴向偏移检测器配置成将入射光子分布到能量分类中，使得可进行光电测量。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 探测器 电子器件 偏位 参考检测器 检测器响应 偏移检测器 测量材料 测量套管 辐射测量 辐射屏蔽 工具使用 光电测量 评估工具 直接测量 单 双 水泥环 套管井 光子 短轴 井眼 入射 地层 照射 输出 水泥 分类 监测 配置 | ||
【主权项】：
1.一种用于在单、双和多套管井眼环境内测量材料体积密度的基于x射线的水泥评估工具，其中所述工具包括：/n内部长度，所述内部长度包括探测器区段，其中所述探测器区段还包括x射线源；用于辐射测量检测器的辐射屏蔽；依赖探测器的电子器件；以及多个工具逻辑电子器件和PSU，/n其中所述工具使用x射线来照射井眼周围的地层，且多个检测器用来直接测量水泥环的密度和其内密度中的任何变化。/n
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