[发明专利]散射测量系统及其使用方法在审
| 申请号： | 201880029608.3 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN110603433A | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | M·R·C·阿特金森 | 申请（专利权）人： | 3M创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 李勇;袁元 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了微散射测量系统，其用于由所收集的数据生成角分辨的散射光轮廓。 | ||
| 搜索关键词： | 散射测量系统 散射光轮廓 数据生成 角分辨 | ||
【主权项】：
1.一种微散射测量系统，依次包括：/n光源，所述光源提供在400nm至700nm范围内的至少一个波长的光；/n聚焦元件；/n样品保持器；/n光圈；和/n第一光检测器，所述第一光检测器能够围绕偏心点旋转，其中当所述光源被通电时，来自所述光源的光束穿过所述聚焦元件并通过所述聚焦元件聚焦到聚焦在所述第一光检测器的所述偏心点处的面积在1平方微米至625平方微米范围内的斑点，其中所聚焦的光在所述焦点之后发散，并且发散光在接触所述第一光检测器之前穿过所述光圈，并且其中所述样品保持器能够在正交于入射光束的平面中平移。/n
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