[发明专利]用于分析侵入式脑部刺激的方法及系统在审
| 申请号： | 201880030015.9 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110799097A | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 阿米尔·B·杰瓦;哈盖·伯格曼;齐夫·佩雷门;德罗·豪尔;丹尼尔·山德;亚基·史登;波阿斯·萨德 | 申请（专利权）人： | 艾欧敏达有限公司;耶路撒冷希伯来大学的益生研究开发有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/04 | 分类号： | A61B5/04;A61B5/0476;A61B5/048;A61B5/0484;A61M21/02;A61N1/18 |
| 代理公司： | 31218 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 以色列海*** | 国省代码： | 以色列;IL |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于分析一脑部刺激工具的性能的方法。所述方法包含：获得从一受试者的脑部收集到的脑波图数据，所述受试者受到所述脑部刺激工具的至少一电极触点的电刺激；将所述数据分割成多个时期，每个所述时期对应于通过所述脑部刺激工具所产生的一单一的刺激事件；及将一时空分析应用于所述多个时期，以便确定以下的至少一者：(1)在所述脑部中的所述至少一电极触点的位置，及(2)所述至少一电极触点的治疗效果。 | ||
| 搜索关键词： | 脑部 电极触点 刺激 刺激事件 时空分析 数据分割 治疗效果 电刺激 图数据 脑波 应用 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析一侵入式脑部刺激工具的性能的方法，所述侵入式脑部刺激工具具有多个电极触点，其特征在于：所述方法包含︰/n获得从一受试者的脑部收集到的脑波图数据，所述受试者受到至少一所述电极触点的电刺激；/n将所述数据分割成多个时期，每个所述时期对应于通过所述脑部刺激工具所产生的一单一的刺激事件；及/n将一时空分析应用于所述多个时期，以便确定以下的至少一者：(1)在所述脑部中的所述至少一电极触点的位置，及(2)所述至少一电极触点的治疗效果。/n
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