[发明专利]斜面蚀刻轮廓控制有效

专利信息
申请号: 201880030307.2 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN110914954B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 苏宗辉;V·普拉巴卡尔;A·A·哈贾;J·李 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C23C16/455;H01L21/67
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;张鑫
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了用于斜面蚀刻处理的方法和设备,并且包括将衬底放置在容纳设置在所述衬底上方的掩模的处理腔室中,其中所述衬底具有边缘和中心并含有沉积的层。所述方法包括:使等离子体沿着所述掩模的外表面并向所述衬底的所述边缘流动;以及使所述边缘暴露于所述等离子体并用所述等离子体从所述边缘蚀刻所述沉积的层。所述方法还包括:使净化气体从定位在所述掩模的内表面上的两个或更多个开口并向所述衬底的所述中心流动;以及使所述衬底的所述上表面在所述中心处暴露于所述净化气体并使所述净化气体从所述中心沿着所述上表面朝向所述边缘径向地流动,以在所述等离子体和所述净化气体的界面处形成蚀刻轮廓。
搜索关键词: 斜面 蚀刻 轮廓 控制
【主权项】:
暂无信息
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