[发明专利]使用MALDI质谱法定量分析聚合物的方法，和制备用于定量分析聚合物的MALDI质谱法的试样的方法在审
| 申请号： | 201880030391.8 | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN110612441A | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 裵龙珍;金钟赞;尹汝荣;林泳姬;赵惠星 | 申请（专利权）人： | 株式会社LG化学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;H01J49/04;H01J49/16;G01N33/44;G01N27/62 |
| 代理公司： | 11327 北京鸿元知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李静;张云志 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够通过MALDI质谱法定量分析聚合物的方法，以及一种制备用于定量分析聚合物的MALDI质谱法的试样的方法。为此，所述方法可以通过使影响聚合物MALDI谱图中的图案的试样厚度更均匀来提高MALDI谱图的再现性。根据本发明的试样也可以用于商业MALDI‑TOF设备，因此，可以以更有效和更快速的方式定量分析聚合物。 | ||
| 搜索关键词： | 定量分析 聚合物 质谱法 影响聚合物 再现性 制备 图案 | ||
【主权项】：
1.一种使用MALDI质谱法定量分析聚合物的方法，该方法使用通过将聚合物化合物、基质和溶剂的混合溶液的聚合物样品从主喷嘴经掩模电喷射到样品板上而制备的试样，其中，所述试样的厚度偏差为30％以下，并且所述掩模包括孔，待电喷射的聚合物样品可以通过该孔传递至所述样品板。/n
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