[发明专利]样品分析装置在审

专利信息
申请号: 201880032389.4 申请日: 2018-07-17
公开(公告)号: CN110651191A 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 中山秀喜;中川和哉;饭田裕;中井阳子 申请(专利权)人: 株式会社堀场先进技术
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10;G01N35/04
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 杨敏;金玉兰
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明实现分析精度的提高,是对通过将试剂放入到容纳于容器(2)的样品而产生的光进行检测,分析样品的样品分析装置(100),其具备:支架(3),其保持容器(2);箱体(C),其具有用于取放支架(3)的门(C2);喷嘴(61),其具有用于将试剂注入到容器(2)且能够装卸的吸头(PT);光检测器(4),其检测从被支架(3)支撑的容器(2)内的样品发出的光;以及废弃箱(10),其用于废弃注入后的吸头(PT),废弃箱(10)构成为配置于箱体(C)内并介由门(C2)而被取放。
搜索关键词: 支架 废弃箱 取放 吸头 样品分析装置 分析样品 光检测器 喷嘴 检测 放入 装卸 废弃 容纳 支撑 配置 分析
【主权项】:
1.一种样品分析装置,其是对通过将试剂放入到容纳于容器的样品而产生的光进行检测,分析所述样品的样品分析装置,其具备:/n支架,其保持容器;/n箱体,其具有用于取放所述支架的门;/n喷嘴,其具有用于向所述容器注入所述试剂且能够装卸的吸头;/n光检测器,其对从被所述支架支撑的容器内的样品发出的光进行检测;以及/n废弃箱,其用于废弃注入后的所述吸头,/n所述废弃箱构成为配置于所述箱体内,并介由所述门而被取放。/n
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