[发明专利]用于极快速信号清除的可调整样本底面在审

专利信息
申请号: 201880034393.4 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN110678730A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 蕾芙·C·萨墨菲尔德;布拉克·梅尔 申请(专利权)人: 元素科学雷射公司
主分类号: G01N1/36 分类号: G01N1/36
代理公司: 11408 北京寰华知识产权代理有限公司 代理人: 何尤玉;郭仁建
地址: 美国内布*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了用于极快速信号清除的可调整样本底面的系统和方法。在一个实施例中,被配置成可调整地支撑样本腔内的目标的目标支撑件可以包含:支撑架,所述支撑架可以被配置成插入到所述样本腔中;支撑平台,所述支撑平台可以安置在所述支撑架内;以及平台调整系统,所述平台调整系统可以耦接到所述支撑架和所述支撑平台。所述平台调整系统可以被配置成对以下中的至少一个进行调整:当所述支撑架被插入到所述样本腔中时,所述支撑平台相对于所述支撑架的位置和朝向。
搜索关键词: 支撑架 支撑平台 平台调整 样本腔 可调整 配置 快速信号 支撑件 成对 样本 安置 支撑
【主权项】:
1.一种目标支撑件,所述目标支撑件被配置成可调整地支撑样本腔内的目标,所述目标支撑件包括:/n支撑架,所述支撑架被配置成插入到所述样本腔中;/n支撑平台,所述支撑平台安置在所述支撑架内;以及/n平台调整系统,所述平台调整系统耦接到所述支撑架和所述支撑平台,其中所述平台调整系统被配置成对以下中的至少一个进行调整:当所述支撑架被插入到所述样本腔中时,所述支撑平台相对于所述支撑架的位置和朝向。/n
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