[发明专利]对目标特性的光学监测在审
| 申请号： | 201880038361.1 | 申请日： | 2018-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN110770573A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 达伦·T·瓦利斯 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;G01N21/76;G01N17/02;G01N21/64;G01N21/88;G01D11/24;H04N21/21 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陆建萍;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种光学监测器包括被设置在光学监测器内并暴露于环境空气的目标，其中暴露于环境空气使得目标的光学特性产生变化。光学监测器还可以包括照射目标的光发射器和基于从目标反射的或透射通过目标的光来生成信号的光学检测器。处理设备可以激活光发射器并从光学检测器接收信号。 | ||
| 搜索关键词： | 光学监测器 光学检测器 光发射器 环境空气 处理设备 光学特性 目标反射 生成信号 照射目标 暴露 透射 激活 | ||
【主权项】：
1.一种光学监测器，包括/n目标，所述目标表示被监测的系统的部件，所述目标被设置在所述光学监测器内并暴露于环境空气，其中，暴露于所述环境空气使得所述目标的光学特性产生变化；/n光发射器，所述光发射器被配置为照射所述目标；/n光学检测器，所述光学检测器被配置为基于从所述目标反射的或透射通过所述目标的光来生成信号；和/n处理设备，所述处理设备被配置为激活所述光发射器并从所述光学检测器接收所述信号。/n
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