[发明专利]用于微测热辐射计检测器的片上偏置校准和读出集成电路有效
申请号: | 201880038740.0 | 申请日: | 2018-04-11 |
公开(公告)号: | CN110731079B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | M·H·克洛格鲁;M·特佩哥兹;T·阿金 | 申请(专利权)人: | 米克罗森斯电子工贸有限公司 |
主分类号: | H04N5/33 | 分类号: | H04N5/33;H04N5/365 |
代理公司: | 南京苏创专利代理事务所(普通合伙) 32273 | 代理人: | 常晓慧 |
地址: | 土耳其*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种允许对微测热辐射计焦平面阵列(FPA)进行片上偏置校准的读出电路。读出电路包括用于存储FPA内的多个像素的一个或多个偏置值的存储器,所述多个像素设置在FPA内的一列或多列和一或多行中。读出电路还包括列读出器,所述列读出器连接到存储器并且配置为搜索一个或多个偏置值并且基于一个或多个偏置值对从FPA接收的信号施加偏置调整。读出电路还包括列多工器,所述列多工器连接到列读出器并配置为对FPA内的一列或多列像素执行动态列选择。 | ||
搜索关键词: | 用于 微测热 辐射计 检测器 偏置 校准 读出 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种允许对微测热辐射计焦平面阵列(FPA)进行片上偏置校准的读出电路,包括:/n用于存储FPA内的多个像素的一个或多个偏置值的存储器,所述多个像素设置在FPA内的一列或多列和一行或多行中;/n列读出器,其连接至存储器并配置为搜索一个或多个偏置值,并基于所述一个或多个偏置值对从FPA接收的信号施加偏置调整;和/n一列多工器,其连接至列读出器并配置为对FPA内的一列或多列像素执行动态列选择。/n
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