[发明专利]处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置

摘要

本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Z

主权项

1.一种处理方法，向对象物照射具有连续X射线光谱的能量的射束状的X射线，检测透过该对象物的所述X射线，在预先设定的两个以上的X射线能量BIN各自中，按照由至少一个像素构成的图像区域中的每一个图像区域对该X射线的光子数进行计数，并处理表示该计数值的数据，其特征在于，具有：/n计算步骤，按照每个所述X射线能量BIN并且按照每个所述像素区域，计算由所述对象物不存在的状态以及所述对象物存在的状态这两个状态中的所述计数值之比表示的计数数据；/n校正步骤，对所述计数数据，基于与预先指定的有效原子序数相对应的校正信息，按照每个所述像素区域并且按照每个所述X射线能量BIN实施对所述X射线透过所述对象物时受到的射束硬化现象进行校正的射束硬化校正，并求出X射线衰减量μt，其中，μ是线衰减系数，t是所述对象物沿着所述X射线的投影方向的厚度；/n标准化步骤，对两个以上的所述X射线能量BIN中所选择的两个所述X射线能量BIN的X射线衰减量进行标准化，并按照每个所述像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量；/n推定步骤，根据表示所述标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个所述像素区域推定至少一个有效原子序数；以及/n一致判断步骤，对在所述推定步骤中推定的至少一个有效原子序数以及在所述校正步骤中预先指定的有效原子序数中的至少两个有效原子序数进行比较，判断是否彼此一致或者是可视作一致的状态。/n