[发明专利]工艺的异常状态诊断装置和异常状态诊断方法有效
| 申请号： | 201880040316.X | 申请日： | 2018-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN110785717B | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 平田丈英 | 申请（专利权）人： | 杰富意钢铁株式会社 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02;G06Q10/00;B21B38/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王玮;苏琳琳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 异常状态诊断装置(1A)将正常时的工艺的状态作为基准，根据将从基准偏离的大小指标化的多个偏离指标，诊断上述工艺的异常状态，异常状态诊断装置(1A)具备：颜色映射部(64)，其将第一轴设为包括时间在内的经时要素的轴，将第二轴设为上述偏离指标的项目的轴，构成二维的矩阵，针对矩阵的各单元，将偏离指标的每个项目和每个经时要素的数据建立对应，针对矩阵的各单元分配与偏离指标的大小相应的颜色；和色图显示部(65)，其显示由颜色映射部制作的色图。 | ||
| 搜索关键词： | 工艺 异常 状态 诊断 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种工艺的异常状态诊断装置，其将正常时的工艺的状态作为基准，根据将从所述基准偏离的大小指标化的多个偏离指标，诊断所述工艺的异常状态，/n所述工艺的异常状态诊断装置的特征在于，具备：/n颜色映射部，其将第一轴设为包括时间在内的经时要素的轴，将第二轴设为所述偏离指标的项目的轴，构成二维的矩阵，针对所述矩阵的各单元，将所述偏离指标的每个项目和每个所述经时要素的数据建立对应，针对所述矩阵的各单元分配与所述偏离指标的大小相应的颜色；和/n色图显示部，其显示由所述颜色映射部制作的色图。/n
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