[发明专利]测定装置和与其一起使用的测定设备在审

专利信息
申请号: 201880041350.9 申请日: 2018-06-17
公开(公告)号: CN110785648A 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 梅纳赫姆·勒夫-萨吉;尼姆罗德·勒夫 申请(专利权)人: 吉恩工具有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N21/13;G02B21/34
代理公司: 31224 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人: 刘粉宝
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要: 用于沿贯穿测定装置的检测线对试样进行电磁辐射(EMR)检测的测定装置。该测定装置包括壳体、试样载玻片以及用于将试样载玻片从初始的最下面的试样导入位置提升到最终的最上面的试样检测位置的试样载玻片提升装置。每个壳体具有壳体顶面和壳体底面。壳体顶面、壳体底面和试样载玻片各自具有对至少一个预定的EMR光谱是透明的面板。试样载玻片面板在它的最终的最上面的试样检测位置将至少一些试样压在壳体顶面面板上进行EMR检测。
搜索关键词: 载玻片 测定装置 壳体顶面 壳体底面 试样检测 壳体 电磁辐射 导入位置 提升装置 检测线 透明的 检测 光谱 贯穿
【主权项】:
1.测定装置,其用于实现在至少一个预定的EMR光谱处对试样进行电磁辐射(EMR)检测,所述测定装置包括:/n(a)壳体,所述壳体具有壳体底面、与所述壳体底面相对的壳体顶面和壳体的外周面,/n所述壳体具有试样导入端口,用于能够将试样导入到所述壳体中,/n所述壳体底面具有壳体底面面板以及所述壳体顶面具有壳体顶面面板,所述壳体顶面面板与所述壳体底面面板对齐,用于界定贯穿所述测定装置的检测线,/n所述壳体底面面板与所述壳体顶面面板对所述至少一个预定的EMR光谱是透明的;/n(b)试样载玻片,其具有试样载玻片面板,用于将至少一些试样放置在所述试样载玻片面板上,/n所述试样载玻片面板对所述至少一个预定的EMR光谱是透明的并且沿着所述检测线与所述壳体顶面面板和所述壳体底面面板相互对齐;以及/n(c)试样载玻片提升装置,其用于在所述初始的最下面的试样导入位置将所述至少一些试样放置在所述试样载玻片面板上之后将所述试样载玻片从初始的最下面的试样导入位置提升到最终的最上面的试样检测位置,所述初始的最下面的试样导入位置和所述最终的最上面的试样检测位置相应地远离和邻近所述壳体顶面,/n所述试样载玻片面板在所述最终的最上面的试样检测位置紧紧地并置抵住所述壳体顶面面板,用于在所述试样载玻片面板和所述壳体顶面面板之间压紧所述至少一些试样。/n
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