[发明专利]使用时变电场的迁移率和质量测量有效

专利信息
申请号: 201880046661.4 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN110892503B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 基思·乔治·理查森;凯文·吉尔斯;史蒂文·德里克·普林格尔;杰森·李·维尔德古斯;大卫·J.·兰格里奇 申请(专利权)人: 英国质谱公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;G01N27/62;G01N27/622;H01J49/42
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋融冰
地址: 英国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种离子迁移率谱分析和/或质谱分析的方法,其中使用将离子通过离子分离装置的传输时间或平均离子速度与该装置的一个或多个参数、离子的质荷比和离子的离子迁移率相关联的算法或关系来确定离子的离子迁移率和/或质荷比,在该离子分离装置中,使用一个或多个时变电场将从其中穿过的离子分离。
搜索关键词: 使用 电场 迁移率 质量 测量
【主权项】:
暂无信息
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