[发明专利]用于电子显微镜的全自动、无模板粒子拾取有效
申请号: | 201880046702.X | 申请日: | 2018-06-13 |
公开(公告)号: | CN111095075B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 阿米特·辛格;阿叶列特·海莫维茨;约阿基姆·昂登;约霍·邱;约瑟夫·齐利尔 | 申请(专利权)人: | 普林斯顿大学理事会 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G05B13/02;G06T7/00;G06T7/32;G06T7/33;G06T7/41;G06T7/77 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种用于全自动、无模板定位和提取显微照片图像中的粒子的多个二维投影的系统和方法。通过分析多个部分重叠的窗口的每个中的图像数据以及与其他窗口相比识别具有满足至少一个统计准则的图像数据的窗口的子集合,来从显微照片图像中自动聚集参考图像的集合。然后计算每个参考图像中的图像数据和多个查询图像窗口的每个中的图像数据之间的归一化的互相关。基于该互相关分析,显微照片中的多个位置被自动识别为包含第一类型的粒子的不同实例的二维投影。然后利用在显微照片中所识别的二维投影来确定粒子的三维结构。 | ||
搜索关键词: | 用于 电子显微镜 全自动 模板 粒子 拾取 | ||
【主权项】:
暂无信息
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