[发明专利]用于飞行时间测量的半导体器件和方法在审
| 申请号： | 201880048551.1 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN110945378A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 马丁·闵采尔;彼得·特拉蒂勒 | 申请（专利权）人： | AMS有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S7/481;G01S7/484 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 奥地利普*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体器件包括：电磁辐射的发射器(2)；光电检测器(10)，其能够检测特定波长的电磁辐射；滤光片(11)，其具有包括特定波长的通带，所述滤光片布置在光电检测器上，所述发射器和/或所述滤光片可电调谐到特定波长；以及电路(14)，所述电路配置成确定由发射器发射并随后由光电检测器接收的信号的发射与接收之间经过的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 飞行 时间 测量 半导体器件 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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