[发明专利]用于接触光电子芯片的对位置公差不敏感的接触模块在审

专利信息
申请号: 201880051266.5 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN110998341A 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 托比亚斯·格奈乌什;罗伯特·比特纳;托马斯·卡登;托马斯·尤哈兹;阿明·格伦德曼;蒂洛·冯弗赖霍尔德 申请(专利权)人: 业纳光学系统有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/311;G02B6/43;H04B10/80
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 潘小军;李骥
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种接触模块(1),借助该接触模块将光电子芯片(2)的专用的电气的和光学的输入端和输出端(AoC)与测试设备的仪器特定的电气的和光学的输入端和输出端连接起来。其特征在于,在芯片(2)与接触模块(1)之间的光学接触具有相对较高的调准不灵敏度。该调准不灵敏度例如通过技术上的如下措施来实现,这些措施将导致芯片(2)的或接触模块(1)上的光学的输入端(EoK)在任意可能的调准位置中被分别待耦入的光学的信号(So)辐射。
搜索关键词: 用于 接触 光电子 芯片 位置 公差 敏感 模块
【主权项】:
暂无信息
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