[发明专利]检测光电传感器中的高强度光有效
| 申请号： | 201880056211.3 | 申请日： | 2018-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN111033193B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 刘新桥 | 申请（专利权）人： | 脸谱科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J1/44 | 分类号： | G01J1/44;G01J1/10 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 两种单独的方案用于检测在弱光条件和强光条件下的光强度。在强光条件下，设置两个阈值电压，并测量传感器电压在两个阈值电压的相交处之间的时间以确定在强光条件下的光强度。在弱光条件下，比较器用于比较传感器电压相对于随时间增加的参考电压的电压电平。检测当参考电压达到传感器电压电平时的时间以确定在弱光条件下的光强度。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 光电 传感器 中的 强度 | ||
【主权项】：
暂无信息
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