[发明专利]用于具有减小的电容器阵列DAC的SAR ADC中的偏移校正的方法和装置在审
申请号: | 201880056540.8 | 申请日: | 2018-10-30 |
公开(公告)号: | CN111052612A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | A·温耶;I·洛肯 | 申请(专利权)人: | 微芯片技术股份有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M1/46 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈斌 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 差分逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)中的偏移校正用电容器减小的数模转换器(DAC)拓扑实现,以实现偏移校正,而无需专用补偿DAC。这消除了附加的模拟电路和芯片面积。为了执行偏移校正,差分SAR ADC将其输入耦合到一起以产生偏移电压,将偏移电压转换成其数字表示,将偏移电压的数字表示存储在偏移寄存器中,并且通过利用由存储在偏移寄存器中的数字表示控制的电容器减小的阵列DAC产生偏移补偿电压来校正偏移电压。数字表示控制与差分SAR ADC的最低有效位(LSB)相关联的减小电容器阵列DAC的参考电压缩放。 | ||
搜索关键词: | 用于 具有 减小 电容器 阵列 dac sar adc 中的 偏移 校正 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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