[发明专利]差示折光检测器有效
| 申请号： | 201880059135.1 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN111094946B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 小田竜太郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;王琳 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种差示折光检测器，在检测部(12)的受光面设置有排列为两列的多个受光元件(a1～a4、b1～b3)。(20)是成像于此检测部(12)上的狭缝图像。受光元件(a1)～受光元件(a4)在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列(a1～a4))，受光元件(b1)～受光元件(b3)也在狭缝图像的位移方向连续配置而形成列(受光元件列(b1～b3))。受光元件列(a1～a4)与受光元件列(b1～b3)相互接触。 | ||
| 搜索关键词： | 折光 检测器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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