[发明专利]使用饱和度剖面来估计地层性质在审
申请号: | 201880060096.7 | 申请日: | 2018-07-23 |
公开(公告)号: | CN111094955A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 艾哈迈德·穆巴拉克·阿勒-哈尔比;郭亨泰;高军 | 申请(专利权)人: | 沙特阿拉伯石油公司 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08;G01R33/44 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 沙特阿拉*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种估计多孔介质的性质的方法,包括:使多孔介质的样本饱和;在离心机中旋转样本,其中样本的第一端比样本的第二端更靠近离心机的旋转轴;获得第一性质的第一估计;使多孔介质的样本饱和;在离心机中旋转样本,其中样本的第二端比样本的第一端更靠近离心机的旋转轴;获得第一性质的第二估计;以及至少部分地基于第一性质的第一估计和第一性质的第二估计来确定多孔介质的第二性质。第一性质可以是T |
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搜索关键词: | 使用 饱和度 剖面 估计 地层 性质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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