[发明专利]用于光谱分析装置的宽带半导体紫外光源在审
| 申请号： | 201880060221.4 | 申请日： | 2018-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN111094916A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | C·索勒;T·杰内克 | 申请（专利权）人： | 贺利氏特种光源有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/10;H01L33/50;H05B33/14;G01J1/58;C09K11/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 金林辉;吴鹏 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于光谱分析装置的半导体紫外光源，其包括壳体，在壳体中容纳有用于发出紫外光的至少一个基于半导体的发射体，在壳体中在基于半导体的发射体与用于工作射束的射束出射部位之间形成有光路。为了使半导体紫外光源的发射能够覆盖200nm至400nm的紫外光谱中的至少大部分，提出，基于半导体的发射体被设计用于发出平均波长在150nm至270nm的范围中的紫外激发光，在所述光路中设有荧光材料，荧光材料部分地吸收紫外激发光并且此时发射出荧光辐射，以使得紫外激发光和荧光辐射叠加成工作射束，该工作射束在200nm至400nm的波长范围中具有至少50nm的光谱带宽。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光谱分析 装置 宽带 半导体 紫外 光源 | ||
【主权项】：
暂无信息
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