[发明专利]处理数字正电子发射断层摄影的探测器像素性能变化在审
| 申请号： | 201880061097.3 | 申请日： | 2018-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN111183371A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 白传勇;A·安德烈耶夫;S·林;张滨;M·A·米勒;宋犀云;叶京汉;S·德维韦迪;胡志强;Y-L·谢;I·布罗德斯基;T·C·布尔格林;Y-M·朱;D·B·麦克奈特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘兆君 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种非瞬态计算机可读介质存储指令，所述指令能由包括至少一个电子处理器(20)的工作站(18)读取并运行以执行质量控制(QC)方法(100)。所述方法包括：接收由像素化探测器(14)采集的当前QC数据集和由所述像素化探测器采集的一个或多个先前QC数据集；根据所述当前QC数据集和所述一个或多个先前QC数据集来确定所述像素化探测器的探测器像素(16)随着时间的稳定性水平；当针对所述探测器像素确定的所述稳定性水平在稳定性阈值范围之外时，将所述像素化探测器的探测器像素标记为死的；以及在与所述工作站可操作地连接的显示设备(24)上显示对被标记为死的所述探测器像素的识别(28)。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 数字 正电子 发射 断层 摄影 探测器 像素 性能 变化 | ||
【主权项】：
暂无信息
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