[发明专利]二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序有效
申请号: | 201880063611.7 | 申请日: | 2018-09-10 |
公开(公告)号: | CN111164407B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 増田敏 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达株式会社 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01J1/42;G01J1/44;G02F1/13;G09F9/00;H04N5/235 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张雪梅 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开一种二维闪烁测量装置,具备:二维成像元件,具有读取摄像区域的一部分的部分读取功能;设置部,将多个与包括至少两个测量区域的部分区域对应的一部分设置于摄像区域;控制部,进行通过将所设置的一部分的数量作为摄像次数,使二维成像元件使用部分读取功能,多次摄像测量对象物,获取与多个一部分分别对应的多个部分区域的测光量;以及计算部,针对多个部分区域中的每一个,执行基于所获取的部分区域的测光量,计算部分区域所包含的至少两个测量区域的闪烁量这一处理。 | ||
搜索关键词: | 二维 闪烁 测量 装置 系统 测量方法 以及 程序 | ||
【主权项】:
暂无信息
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