[发明专利]用于确定分析物的纳米传感器方法和装置在审

专利信息
申请号: 201880066841.9 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN111213051A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 权奇敏;梁峰 申请(专利权)人: 哈佛学院院长及董事
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N33/553
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 马景辉
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明一般而言涉及用于例如经由表面等离子共振、电共振、磁共振、颜色变化等确定分子和其它特征的纳米传感器。这些物品和方法可以例如被用于样品检测。在本发明的一些方面中描述的物品包括微孔阵列和纳米传感器阵列。纳米传感器阵列可以利用定位在纳米结构上的能够与被怀疑包含分析物的样品(诸如单个细胞)相互作用的纳米颗粒。纳米颗粒与样品之间的相互作用可以通过施加的能量的变化来检测,诸如由于入射可见光的表面等离子共振和/或其它类型的共振引起的更改的电磁辐射。电磁辐射可以被施加到微孔阵列和纳米传感器,并且当纳米传感器与被怀疑包含分析物的样品相互作用时,施加的电磁辐射可以被更改。
搜索关键词: 用于 确定 分析 纳米 传感器 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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