[发明专利]介电膜的几何选择性沉积有效

专利信息
申请号: 201880067801.6 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN111247269B 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 丹尼斯·M·豪斯曼;亚历山大·R·福克斯;大卫·查尔斯·史密斯;巴特·J·范施拉文迪克 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/56;C23C16/34;C23C16/40;C23C16/32;H01L21/768;H01L21/02
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 樊英如;邱晓敏
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了用于在图案化特征的侧壁表面上选择性地沉积材料的方法。在一些实施方案中,所述方法包括:提供衬底,所述衬底具有从所述衬底的表面凹陷的特征。所述特征具有底部和从所述底部延伸的侧壁。使用原子层沉积(ALD)处理在所述特征上沉积保形膜。通过使所述衬底暴露于定向等离子体而使沉积在所述底部上的所述保形膜改性,使得在所述底部上的所述保形膜比在所述侧壁上的所述保形膜较不致密。优先对于沉积在所述特征的所述底部上的已改性的所述保形膜进行蚀刻。还提供了用于在图案化的特征的水平表面上选择性沉积的方法。
搜索关键词: 介电膜 几何 选择性 沉积
【主权项】:
暂无信息
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