[发明专利]用于测试高频装置的测试头的接触探针有效
| 申请号： | 201880072619.X | 申请日： | 2018-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN111344578B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·克里帕;弗拉维奥·马焦尼;安德莉亚·伽龙 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(10)，包括在第一端部(10a)和第二端部(10b)之间沿纵向轴线(H‑H)延伸的主体(10’)，第二端部(10b)适于接触被测器件的垫(11)。适当地，接触探针(10)包括第一区段(S1)和第二区段(S2)，第一区段(S1)从第一端部(10a)沿纵向轴线(H‑H)延伸并且由非导电材料制成，并且第二区段(S2)沿纵向轴线(H‑H)从第二端部(10b)向上延伸至第一区段(S1)，第二区段(S2)是导电的并且延伸的距离小于1000μm。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 高频 装置 接触 探针 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰克诺探头公司，未经泰克诺探头公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880072619.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
