[发明专利]用于飞行时间和接近度的测量的半导体装置和方法有效
| 申请号： | 201880073553.6 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN111837302B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 马丁·闵采尔 | 申请（专利权）人： | AMS有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/42 | 分类号： | H01S5/42;G01S17/08;G01S7/4865;H01S5/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 奥地利普*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种电磁辐射的发射器(12)，该发射器被配置用于提供不同宽度的照明场的运行模式，和光电检测器(11)，该光电检测器被配置用于通过检测由发射器发射并且被反射到光电检测器的电磁辐射来进行飞行时间和接近度的测量。发射器由驱动器(13)操作，该驱动器(13)被配置用于运行模式之间的交替。当照明场窄时执行飞行时间测量，并且当照明场宽时执行接近度或环境光测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 飞行 时间 接近 测量 半导体 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AMS有限公司，未经AMS有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880073553.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
