[发明专利]用于质谱分析的直接采样界面的反馈控制的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201880075201.4 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN111373506A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: D·W·阿诺德;T·R·柯维;刘畅;B·莫罗尚 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;G01N1/38;G01N35/10
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 陈甜甜
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 基于质谱仪的分析系统和方法,其中可以利用反馈控制系统来控制采样探头内的液体流,以调节和/或维持所述采样探头的开放采样端口内的所述液‑气界面的表面轮廓(例如,形状)。所述反馈控制系统可以自动监测和/或检测所述液‑气界面的表面轮廓,并且调节所述采样液体的流速,以确保在连续采样期间引入样本时实验条件保持一致。这些可以为所述离子源提供稳定且可重复的稀释度一致的分析物流,从而提高了通过MS分析生成的数据的可重复性和/或准确性。可以根据特定实验工作流程与所需设置点的变化一起使用(例如,在与采样设置点和清洁设置点相对应的界面之间的自动调节)。
搜索关键词: 用于 谱分析 直接 采样 界面 反馈 控制 方法 系统
【主权项】:
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