[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序有效
| 申请号： | 201880075641.X | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111373254B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 上田佳央;冈本康平 | 申请（专利权）人： | 日本制铁株式会社 |
| 主分类号： | G01N29/44 | 分类号： | G01N29/44;G01N29/26;G01N29/30;G01N29/48 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 夏斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序。缺陷检测装置具备：超声波波形数据生成部(123)，按照构成接收超声波振子(114)的每个超声波振子(111)，生成按时间序列表示由接收部(132)接收到的反射超声波束的振幅的超声波波形数据；超声波波形数据处理部(124)，使用用于按照构成接收超声波振子(114)的每个超声波振子(111)来调整超声波波形数据的原点时刻的原点时刻调整模式、且是设定了相控阵探头(110)与焊接部(210)之间的多个相对位置关系的多个原点时刻调整模式，按照每个原点时刻调整模式，进行对被调整了原点时刻的超声波波形数据进行合成的处理而生成合成超声波波形数据；以及缺陷判定部(125)，基于合成超声波波形数据，判定在焊接部(210)是否存在缺陷(211)。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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