[发明专利]用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统在审
申请号: | 201880079995.1 | 申请日: | 2018-07-31 |
公开(公告)号: | CN111465840A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 卡里姆·S·卡里姆;克里斯托弗·C·斯科特 | 申请(专利权)人: | KA影像公司 |
主分类号: | G01N23/041 | 分类号: | G01N23/041;H04N5/232 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 徐舒 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种相衬X射线成像系统,用于对象成像,包括:X射线源;和X射线探测器,其具有25微米或更小的像素间距;其中,在X射线源与对象之间的距离小于或等于10cm。 | ||
搜索关键词: | 用于 射线 成像 高分辨率 探测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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