[发明专利]垂直晶体管的自对准底部间隔物的形成有效
申请号: | 201880081159.7 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN111480238B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 李忠贤;望月省吾;鲍如强;H.贾甘纳坦 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种制造半导体器件的方法,包括在衬底上形成鳍片。在鳍片相对侧上的衬底上布置源极/漏极区域。该方法包括在源极/漏极区域上沉积半导体层。该方法包括在鳍片和半导体层上沉积含锗层。该方法还包括施加退火操作,该退火操作被配置为使半导体层与含锗层化学反应并形成氧化硅层。 | ||
搜索关键词: | 垂直 晶体管 对准 底部 间隔 形成 | ||
【主权项】:
暂无信息
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