[发明专利]用于测试电子器件的测试头的接触探针在审
| 申请号： | 201880081701.9 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN111492251A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 法比奥·莫甘娜 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于测试电子器件的测试头的接触探针(10)包括由第一导电材料制成并沿纵轴(H‑H)延伸的杆状主体(10')和由主体(10')在其端部(10a)处支撑的接触尖端(11)，接触尖端(11)由与主体(10')的第一导电材料不同的第二导电材料制成，接触尖端(11)包括接触区(11c)，该接触区适于与被测器件的接触垫进行机械和电接触，其中主体(10')和接触尖端(11)包括彼此接触的相应接触表面。适当地，接触表面彼此互补并且成形为包括彼此接合的相应连接元件，这种连接元件呈从主体(1)和接触尖端(11)中的一个的接触表面突出的至少一个突出元件(13p)以及呈在主体(10′)和接触尖端(11)中的另一个中形成的至少一个相应的凹部(13r)的形式。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子器件 接触 探针 | ||
【主权项】：
暂无信息
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