[发明专利]弧形X射线光栅的测试在审
| 申请号： | 201880082725.6 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111512148A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | A·亚罗申科;T·克勒;H-I·马克;M·泰德尔斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041;G01B11/255 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘兆君 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试用于基于光栅的X射线成像设备的弧形X射线光栅的曲率半径和/或用于检测所述弧形X射线光栅的不均匀性的方法和对应的设备。所述方法包括生成从源点发散、沿着主光轴传播并且具有线形束轮廓的光束。所述方法包括使所述束反射离开所述光栅的凹形反射表面。所述凹形反射表面的主轴与所述主光轴一致并且所述源点处于距所述主光轴与所述凹形反射表面相交的点的预定距离处。所述方法包括确定所反射的束在所述源点处或附近的平面中的投影是否存在于所述源点周围的中心区域外部，其中，该投影在所述中心区域外部的不存在指示所述凹形反射表面的曲率半径对应于所述预定距离和/或所述反射表面沿着由撞击到所述凹形反射表面上的所述束形成的曲线基本上均匀地弯曲。 | ||
| 搜索关键词： | 弧形 射线 光栅 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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