[发明专利]离子化装置和质谱分析装置有效
| 申请号： | 201880087773.4 | 申请日： | 2018-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN111656483B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 西口克 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/14 | 分类号： | H01J49/14;H01J49/40;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种离子化装置(1)以及具备该离子化装置(1)的质谱分析装置(60)，其中，该离子化装置(1)包括：离子化室(10)；试样气体导入口(14)，其设于离子化室(10)，用于导入试样气体；电子束释放部(11)，其用于朝向离子化室(10)释放电子束；电子束通过口(10a、10b)，其形成于离子化室(10)的壁面的、供从电子束释放部(11)释放的电子束通过的路径上，该电子束通过口的在该路径的方向上的长度比与该方向正交的截面的宽度长；以及离子出口(10c)，其设于离子化室(10)，用于将通过照射电子束而生成的试样气体的离子释放。 | ||
| 搜索关键词： | 离子化 装置 谱分析 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所，未经株式会社岛津制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880087773.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：自动扶梯的梯级脱落检测装置
- 下一篇：离心机转子
