[发明专利]用于测量电场的装置有效
| 申请号： | 201880088088.3 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN111656202B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | W.霍奇茨;M.施蒂夫特;H.施泰纳 | 申请（专利权）人： | 克莱姆斯多瑙大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于测量电场(E)的装置，所述装置包括由在运行温度中导电的材料构成的微机械结构(1)，其中，所述微机械结构(1)具有框架区段(2)和能移动的区段(3)，其中，所述能移动的区段(3)与框架区段(2)导电地并且机械地弹性连接并且能够相对于所述框架区段(2)移动，其中，这样设计所述微机械结构(1)，使得在将所述微机械结构(1)布置在具有平行于第一方向(x)的不等于零的第一场强分量(E |
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| 搜索关键词： | 用于 测量 电场 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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