[发明专利]接触精度保证方法、接触精度保证机构和检查装置在审

专利信息
申请号: 201880089266.4 申请日: 2018-12-19
公开(公告)号: CN111742399A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 山崎祯人;望月纯 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;刘芃茜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供接触精度保证方法、接触精度保证机构和检查装置。接触精度保证方法包括以下操作:在使探针卡的多个探针与基片接触并用测试器进行基片检查的检查装置中,在载置台上载置具有多个第一标记的位置对准用基片;将位置对准用基片在载置台上进行位置对准;将模拟探针卡的由透明体构成的位置确认用部件安装在探针卡的安装部的规定位置,其中位置确认用部件在与位置对准用基片的第一标记对应的位置具有多个第二标记;使位置对准用基片位于位置确认用部件正下方的接触区域中的规定位置;用拍摄方向为垂直方向的位置确认用摄像机拍摄第二标记和第一标记,来检测第二标记与第一标记的水平方向的偏离,其中位置确认用摄像机设置于与位置确认用部件的上方的第二标记分别对应的位置;以及在该偏离在容许范围内的情况下,保证基片与探针卡的探针的接触精度。
搜索关键词: 接触 精度 保证 方法 机构 检查 装置
【主权项】:
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