[发明专利]准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置在审
| 申请号： | 201880090161.0 | 申请日： | 2018-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111770728A | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 森井久史;奥之山隆治;都木克之 | 申请（专利权）人： | 株式会社ANSeeN |
| 主分类号： | A61B6/06 | 分类号： | A61B6/06 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李文屿 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供能够将散射放射线进一步除去的准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。本发明的准直仪20具备：放射线屏蔽部22；和放射线透过部21，其放射线屏蔽率低于上述放射线屏蔽部22，所述放射线透过部将上述放射线屏蔽部22贯通，并且为实心。根据本发明的准直仪20，由于准直仪20的X射线透过部21是实心的，因此，在X射线透过部21中，由被检体B散射的低能量侧的X射线被吸收。因此，由放射线探测元件30探测到的X射线中包含的噪声少，能够得到分辨率高的X射线图像。 | ||
| 搜索关键词： | 准直仪 放射线 探测 装置 检查 | ||
【主权项】：
暂无信息
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