[发明专利]采样电路和电子设备在审
申请号: | 201880091852.2 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN111919382A | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 中本英一 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H03F3/343 | 分类号: | H03F3/343;H03F3/70;H03M1/12 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的目的在于对放大模拟信号并进行采样的电路中的信号质量进行改善。将输入信号输入至输入端电阻的一端。运算放大器放大输入信号,并且从输出端将信号作为放大的信号输出。允许从输入信号中传输规定的频率分量的滤波电容器具有连接至运算放大器的输入端的一端。采样电容器在规定的采样时段期间采集放大信号并且在规定的保持时段期间保持放大信号。采样开关在采样时段期间将运算放大器的输出端连接至采样电容器的一端,并且在保持时段期间将运算放大器的输出端与采样电容器的一端断开。切断电路在采样时段期间将输入端电阻与滤波电容器的一端断开,并且在保持时段期间将输入端电阻与滤波电容器的一端连接。 | ||
搜索关键词: | 采样 电路 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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