[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201880092131.3 申请日: 2018-04-12
公开(公告)号: CN111937138A 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 宫胁胜巳 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/12 分类号: H01L23/12;H01L23/29
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体装置(50)具有:引线框(1),其具有引线(23)以及芯片焊盘(24);印刷基板(3),其具有分别连接引线(23)以及芯片焊盘(24)的电极(25、26)、配线图案(11)、使芯片焊盘(1)的表面的一部分露出的开口(22);半导体元件(5),其安装于与从开口(22)露出的芯片焊盘(24)的表面接合的金属块(15)的表面,对通过金属导线(6)而与配线图案(11)连接的高频信号进行处理;电子部件(4),其与配线图案(11)连接,并且安装于印刷基板(3)的表面;以及封装树脂(2),其以引线(23)以及芯片焊盘(24)的背面露出的方式,将印刷基板(3)、半导体元件(5)、电子部件(4)、金属导线(6)封装。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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